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El pasado martes día 20 de mayo se celebró la II JORNADA SOBRE LA ESTADÍSTICA DE I+D+i en el Salón de Actos del C.T.R. En ella se realizó un exhaustivo análisis de los cuestionarios correspondientes a empresas, centros tecnológicos, organismos públicos, fundaciones y universidad. La apertura del evento correspondió al Excmo. Sr. D. Juan José Muñoz Ortega, Consejero de Hacienda, mientras que realizó la clausura el Excmo. Sr. D. Javier Erro Urrutira, Consejero de Industria, Innovación y Empleo.

D. Fernando Cortina García, Subdirector de Estadísticas de Servicios, y Dña. Belén González Olmos, Jefe de Área de Indicadores de Ciencia y Tecnología, diferenciaron entre la estadística de I+D y la Innovación, y expusieron de forma clara, por un lado los objetivos de la encuesta de I+D y por otro los de la encuesta de Vigilancia Tecnológica, sus orígenes y la necesidad para la sociedad española del conocimiento de la realidad de los datos.

Posteriormente se fue analizando de forma sistemática todos y cada uno de los apartados correspondientes a las encuestas que deben rellenar los distintos organismos, entidades o empresas, lo cual llevó a un animado debate con los asistentes que expusieron sus dudas en cuanto a la realización de la misma. Fue un evento muy provechoso por cuanto supuso una gran ayuda a los asistentes.